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板對板連接器測試中,也可以用到pogopin探針模組

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-06-15
板對板連接器在手機、平板電腦和筆記本電腦的連接電路中起著重要作用,是3C產品中不可或缺的組件。作為電流傳輸能力快的連接器,板對板連接器在功耗、安裝、插拔、散熱等方面也具有優異的性能。現在的3C數碼產品越來越薄,板對板連接器也朝著更小的趨勢發展。然而,在操作過程中,板對板連接可能會出現故障,例如接觸不良、電纜斷開或電導率降低,這與板對板連接器的質量有關。通常,板對板連接器需要在制造后進行測試,在測試中可以用到:彈片微針模組、亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模組。


雙排8pin連接器 (3).jpg

  在板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器(qi)的(de)測(ce)試中,需(xu)要(yao)連(lian)(lian)接(jie)模塊,例如彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu),作為電流傳導和信號(hao)連(lian)(lian)接(jie)的(de)橋梁。在大(da)電流測(ce)試中,彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu)可在1-50a范(fan)圍(wei)內傳輸電流,電流穩定,連(lian)(lian)接(jie)功能良好。面對(dui)(dui)板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器(qi)的(de)小間距(ju)問題,pogopin探針(zhen)模組(zu)(zu)容易卡(ka)死和斷(duan)針(zhen),無法適應小間距(ju)領域的(de)測(ce)試。彈片(pian)微(wei)針(zhen)模組(zu)(zu)是集成的(de)薄片(pian)結構,在小間距(ju)領域具有自然優(you)勢。它不僅具有良好的(de)導電性,而且保持穩定的(de)連(lian)(lian)接(jie),這有助于提高板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)(lian)接(jie)器(qi)的(de)測(ce)試效率。


  在板對板連接器測試中應注意以下幾點:


  1、板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連接(jie)(jie)器(qi)(qi)工(gong)作時,電(dian)流(liu)會在接(jie)(jie)觸點(dian)產生熱量(liang),導致溫(wen)升(sheng)。因此(ci),板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連接(jie)(jie)器(qi)(qi)的工(gong)作溫(wen)度應等于環境(jing)溫(wen)度和(he)(he)觸點(dian)溫(wen)升(sheng)之和(he)(he).


  2、板(ban)對(dui)板(ban)連接(jie)器的絕緣性(xing)能會受到(dao)濕氣和(he)濕氣侵入的影響,金屬部件也會生銹。因此,有(you)必(bi)要規定相對(dui)濕度為90%~95%,溫度為+40±20℃.


  3、板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連接(jie)器在(zai)含鹽霧的環境中工作時,接(jie)觸面和金屬結構件(jian)可能發生電(dian)化(hua)學腐蝕,影響板(ban)(ban)對(dui)板(ban)(ban)連接(jie)器的電(dian)氣性(xing)能,不能直(zhi)接(jie)使(shi)用。


4pin貼片連接器 (3).jpg

  板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)與(yu)公、母座(zuo)配(pei)合(he)使(shi)用(yong),封堵(du)力是重要的(de)(de)力學性(xing)能(neng)。因此(ci),試驗中(zhong)還要求(qiu)公、母座(zuo)椅的(de)(de)連(lian)接(jie)(jie)(jie)和(he)電(dian)流傳輸穩定(ding)。彈(dan)片微針模組(zu)的(de)(de)另(ling)一個優點是,它(ta)可以使(shi)用(yong)不同(tong)的(de)(de)頭類(lei)型(xing)來測試板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)的(de)(de)公座(zuo)和(he)母座(zuo)。具(ju)體地說,鋸齒彈(dan)片接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)板(ban)用(yong)于(yu)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)的(de)(de)公座(zuo),公座(zuo)頂部的(de)(de)彈(dan)片多(duo)點接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)以保持(chi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu)的(de)(de)穩定(ding)性(xing);使(shi)用(yong)尖頭彈(dan)簧片與(yu)板(ban)對(dui)板(ban)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)母座(zuo)的(de)(de)兩側保持(chi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)(chu),以保持(chi)連(lian)接(jie)(jie)(jie)長期穩定(ding)。


  在板對板連(lian)接(jie)(jie)器(qi)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)中,無需擔(dan)心彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)對連(lian)接(jie)(jie)器(qi)造成(cheng)的(de)(de)(de)損壞。將相同的(de)(de)(de)彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)放在板對板連(lian)接(jie)(jie)器(qi)上,并在500倍(bei)顯微鏡(jing)下比較測(ce)(ce)試(shi)前后20次。可以看出,連(lian)接(jie)(jie)器(qi)基本上沒有刺傷。可以證明,彈片(pian)微針(zhen)(zhen)模組(zu)是(shi)性能穩定、使用(yong)安(an)全(quan)的(de)(de)(de)高(gao)效連(lian)接(jie)(jie)模塊。


  板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)接器(qi)測試可以(yi)消除故障產(chan)品(pin),確保質(zhi)量和數量。應用于(yu)板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)接器(qi)的(de)彈(dan)片微針模組的(de)平均使用壽命(ming)超過(guo)20W倍(bei)。它可以(yi)自由(you)應對(dui)(dui)高頻(pin)測試。其彈(dan)片頭采用自清(qing)潔設計,可避免雜質(zhi)干擾,無需像pogopin探(tan)針模組那(nei)樣頻(pin)繁(fan)更換。對(dui)(dui)于(yu)板(ban)對(dui)(dui)板(ban)連(lian)接器(qi)測試,可以(yi)大限(xian)度地提高測試效率,完成(cheng)測試過(guo)程。

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