我們常看到的一些3C產品，里面(mian)都(dou)有安(an)裝鋰電(dian)池，鋰電(dian)池具有高能量(liang)密度、高電(dian)壓、壽命長、無(wu)記(ji)憶效應等優點(dian)，是21世紀發展的理想電(dian)源。鋰電(dian)池可廣泛(fan)應用(yong)于(yu) 3C 也被稱(cheng)為手機、平板電(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)腦、可穿戴(dai)設備等領域3C鋰電(dian)池3C鋰電(dian)池容(rong)易因短路、過充等原因燒毀或爆(bao)炸，所以很危險3C鋰電(dian)池測試是鋰電(dian)池制(zhi)造(zao)和(he)(he)組裝的重(zhong)要環節，是實現鋰電(dian)池性(xing)能和(he)(he)安(an)全靠(kao)譜使用(yong)的有力保障，3C鋰電(dian)池測試項目主要包括一致(zhi)性(xing)、功能性(xing)、安(an)全性(xing)、靠(kao)譜性(xing)和(he)(he)工(gong)況(kuang)模擬。

　　3C鋰電(dian)池測試對電(dian)池測試模塊的選(xuan)擇很重要(yao)。目前市場上廣泛使用的電(dian)池測試模塊有兩種(zhong)，一種(zhong)是凱智通大電(dian)流彈(dan)片微針模塊，另一種(zhong)是pogo pin探(tan)針模塊。通過(guo)比較兩者(zhe)的優缺點，我(wo)們可以更(geng)直觀地區分哪一個(ge)更(geng)符合要(yao)求3C鋰電(dian)池測試要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無(wu)論面(mian)對(dui)小間距還是大(da)電(dian)流，大(da)電(dian)流彈片微(wei)(wei)針模塊都有(you)(you)很好的(de)(de)應對(dui)方法。pitch在該領域(yu)，大(da)電(dian)流彈片微(wei)(wei)針模塊是可取的(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)靠譜。面(mian)對(dui)大(da)電(dian)流測試要求，大(da)電(dian)流彈片微(wei)(wei)針模塊可通過的(de)(de)額(e)定(ding)電(dian)流大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)(you)電(dian)流衰減(jian)，具有(you)(you)良好的(de)(de)連接功能，可以(yi)很大(da)限度地保障3C鋰(li)電(dian)池測試的(de)(de)穩定(ding)性。

　　就使用壽命而(er)言，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)的(de)試(shi)驗壽命在于5w大(da)電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)的(de)試(shi)驗壽命約為(wei)(wei)20w以上，比較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍！pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)(wei)多(duo)組(zu)件結構(gou)，生產(chan)(chan)(chan)工藝復雜，生產(chan)(chan)(chan)難(nan)度(du)高，交貨(huo)周期(qi)長；大(da)型電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)(wei)一(yi)體化彈片結構(gou)，輕、扁平，可根據(ju)客戶(hu)要求定制，生產(chan)(chan)(chan)難(nan)度(du)低，交貨(huo)周期(qi)短。相比之下(xia)，大(da)型電流彈片微(wei)針(zhen)模(mo)塊(kuai)的(de)成(cheng)本性(xing)能并不太(tai)高！

　　對比母(mu)座(zuo)測試(shi)良率，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對BTB連(lian)接(jie)器(qi)母(mu)座(zuo)幾乎無法實現，穩定(ding)(ding)性極差。大部分采用觸摸方(fang)案對應，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率不到(dao)80%；母(mu)座(zuo)上有一種特別的大電流(liu)彈(dan)片微針(zhen)模塊對應方(fang)法。將斜口型（也稱尖頭型）彈(dan)片頭插入連(lian)接(jie)器(qi)內端子，以(yi)保持一定(ding)(ding)的開度，從而保障彈(dan)片的接(jie)觸面(mian)和接(jie)觸面(mian)BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子兩側(ce)保持接(jie)觸狀態，使測試(shi)穩定(ding)(ding)，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率高(gao)達99.8%。

　
　大(da)電流(liu)彈片微(wei)針模塊測(ce)試(shi)效率高，穩定性好。與同一產(chan)品測(ce)試(shi)前后相比(bi)，連接器基(ji)本上看不到刺痕，不會對產(chan)品造成任何損壞pogopin探針電池測(ce)試(shi)模塊更值得選擇和信賴。