我們常看到的一些(xie)3C產品(pin)，里面(mian)都有安(an)裝鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)具(ju)有高能(neng)量密度(du)、高電壓、壽命長、無記憶效應等優點，是21世紀(ji)發展(zhan)的理(li)想電源(yuan)。鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被(bei)稱為手機、平板電腦(nao)、筆記本電腦(nao)、可穿戴設備等領(ling)域3C鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)容易因短路、過充等原因燒(shao)毀或爆炸(zha)，所以很危險(xian)3C鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)制造和組裝的重要環(huan)節，是實現鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)性(xing)能(neng)和安(an)全靠(kao)譜(pu)使用(yong)的有力保障，3C鋰(li)(li)(li)(li)(li)電池(chi)(chi)(chi)(chi)測試項目主要包(bao)括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安(an)全性(xing)、靠(kao)譜(pu)性(xing)和工況(kuang)模(mo)擬(ni)。

　　3C鋰(li)電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)對電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)的(de)選擇很重要(yao)。目(mu)前市場上廣泛(fan)使用的(de)電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)有兩(liang)種(zhong)，一種(zhong)是凱智通大(da)電(dian)流彈片微針模(mo)塊(kuai)，另(ling)一種(zhong)是pogo pin探針模(mo)塊(kuai)。通過比較(jiao)兩(liang)者的(de)優缺(que)點，我們可以(yi)更直觀地區分哪(na)一個更符合要(yao)求(qiu)3C鋰(li)電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論(lun)面對小(xiao)間距還是(shi)大(da)電(dian)流(liu)(liu)，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)都有(you)很好的應對方(fang)法。pitch在該領域，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)是(shi)可(ke)取的pitch值在0.15mm-0.4mm性(xing)能(neng)穩(wen)定(ding)靠(kao)譜。面對大(da)電(dian)流(liu)(liu)測試(shi)要求，大(da)電(dian)流(liu)(liu)彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)可(ke)通(tong)過(guo)的額(e)定(ding)電(dian)流(liu)(liu)大(da)到50A，在1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾(ji)乎沒有(you)電(dian)流(liu)(liu)衰減，具有(you)良好的連接功能(neng)，可(ke)以很大(da)限度地保障3C鋰電(dian)池測試(shi)的穩(wen)定(ding)性(xing)。

　　就使(shi)用(yong)壽(shou)命而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的試驗壽(shou)命在于5w大(da)(da)電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的試驗壽(shou)命約為(wei)20w以上，比較pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)整整多了四倍(bei)！pogopin探針(zhen)(zhen)模塊(kuai)為(wei)多組件結(jie)構，生產工藝復雜，生產難度(du)高，交貨(huo)周(zhou)(zhou)期長；大(da)(da)型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)為(wei)一體化彈(dan)片結(jie)構，輕、扁平，可根據客戶要(yao)求定制，生產難度(du)低，交貨(huo)周(zhou)(zhou)期短。相比之下，大(da)(da)型電流彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模塊(kuai)的成本性能(neng)并不太高！

　　對(dui)(dui)比母座測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對(dui)(dui)BTB連(lian)接器母座幾乎無法(fa)實現，穩定(ding)性極(ji)差。大部(bu)分采用觸摸方(fang)案對(dui)(dui)應，母座測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)不到80%；母座上有一種特別的大電(dian)流彈片(pian)微針(zhen)模塊對(dui)(dui)應方(fang)法(fa)。將斜口型(xing)（也稱尖頭(tou)型(xing)）彈片(pian)頭(tou)插入連(lian)接器內(nei)端子，以保持(chi)一定(ding)的開度，從而保障彈片(pian)的接觸面(mian)和(he)接觸面(mian)BTB連(lian)接器端子兩側保持(chi)接觸狀態，使測(ce)(ce)試(shi)(shi)穩定(ding)，母座測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)高達99.8%。

　
　大電(dian)流彈片(pian)微針(zhen)模(mo)塊(kuai)測(ce)試(shi)(shi)效率高，穩定性好。與同一產(chan)(chan)品(pin)測(ce)試(shi)(shi)前后(hou)相(xiang)比，連(lian)接器基本上(shang)看(kan)不到(dao)刺痕，不會對產(chan)(chan)品(pin)造(zao)成任何損(sun)壞pogopin探針(zhen)電(dian)池測(ce)試(shi)(shi)模(mo)塊(kuai)更值得選擇和(he)信賴。