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pogopin探針模組和大電流彈片微針模組在鋰電池測試,會有哪些差別

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-04-20

  我們常看(kan)到(dao)的(de)一些(xie)3C產品,里面(mian)都有安裝鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi),鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高(gao)能量密度、高(gao)電(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無記(ji)憶(yi)效(xiao)應等優(you)點,是21世(shi)紀發展的(de)理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)(ke)廣泛(fan)應用(yong)于 3C 也被稱(cheng)為手(shou)機(ji)、平(ping)板電(dian)(dian)(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)(ke)穿(chuan)戴(dai)設備等領域3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容(rong)易(yi)因短路、過充等原因燒毀或爆炸(zha),所以很(hen)危險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試是鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制(zhi)造和組裝的(de)重要(yao)環節,是實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性能和安全靠譜(pu)使用(yong)的(de)有力(li)保障(zhang),3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測(ce)試項(xiang)目主要(yao)包(bao)括一致(zhi)性、功能性、安全性、靠譜(pu)性和工況模擬。


  3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)對電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊的選擇很(hen)重要(yao)。目前市場上廣泛使用的電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)模(mo)塊有兩種(zhong),一(yi)種(zhong)是(shi)凱智通(tong)(tong)大電(dian)流彈片微針模(mo)塊,另一(yi)種(zhong)是(shi)pogo pin探針模(mo)塊。通(tong)(tong)過比較兩者(zhe)的優缺點(dian),我們可以更(geng)直觀地區分哪一(yi)個(ge)更(geng)符合要(yao)求3C鋰電(dian)池(chi)測(ce)(ce)試(shi)要(yao)求。


  從目前的市場趨勢來看,3C電子產品內部空間集成度高,pitch不斷縮小,亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差,只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大,pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A,在傳輸過程中,電流會在不同位衰減,導致連接不穩定。

4pin貼片連接器 (2).jpg


  無論(lun)面對(dui)小(xiao)間距還是大(da)電(dian)(dian)流(liu),大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)都有很好的應對(dui)方法。pitch在該領域,大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)是可取的pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩(wen)定(ding)靠譜。面對(dui)大(da)電(dian)(dian)流(liu)測試要求,大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊(kuai)可通(tong)過的額(e)定(ding)電(dian)(dian)流(liu)大(da)到50A,在1-50A電(dian)(dian)阻(zu)恒定(ding),幾(ji)乎沒有電(dian)(dian)流(liu)衰減,具有良(liang)好的連接功能,可以很大(da)限度地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)池測試的穩(wen)定(ding)性。


  就使用壽命而(er)言,pogopin探針模(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗壽命在(zai)于5w大(da)(da)電流(liu)(liu)(liu)彈片(pian)(pian)(pian)微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)的試驗壽命約為20w以(yi)上,比(bi)較(jiao)pogopin探針模(mo)塊(kuai)(kuai)整(zheng)(zheng)整(zheng)(zheng)多了四倍!pogopin探針模(mo)塊(kuai)(kuai)為多組(zu)件結(jie)構,生產(chan)工藝復(fu)雜,生產(chan)難度(du)高(gao),交貨(huo)周期長;大(da)(da)型(xing)電流(liu)(liu)(liu)彈片(pian)(pian)(pian)微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)為一(yi)體化彈片(pian)(pian)(pian)結(jie)構,輕、扁平,可根據(ju)客戶要求定制,生產(chan)難度(du)低(di),交貨(huo)周期短。相比(bi)之(zhi)下,大(da)(da)型(xing)電流(liu)(liu)(liu)彈片(pian)(pian)(pian)微(wei)(wei)針模(mo)塊(kuai)(kuai)的成本性能并不太高(gao)!


  對(dui)比母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv),pogopin探針(zhen)(zhen)模組針(zhen)(zhen)對(dui)BTB連接(jie)(jie)器母座(zuo)幾乎無法實現(xian),穩定(ding)(ding)性極(ji)差。大(da)部(bu)分采(cai)用觸摸方案對(dui)應(ying),母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)不到80%;母座(zuo)上(shang)有(you)一種特別的(de)大(da)電流彈片(pian)微(wei)針(zhen)(zhen)模塊對(dui)應(ying)方法。將斜口型(也稱尖頭(tou)型)彈片(pian)頭(tou)插入連接(jie)(jie)器內端子,以保(bao)持一定(ding)(ding)的(de)開度(du),從而保(bao)障彈片(pian)的(de)接(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)器端子兩側(ce)保(bao)持接(jie)(jie)觸狀態,使測(ce)試(shi)穩定(ding)(ding),母座(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率(lv)高達(da)99.8%。

 
 大電(dian)流彈片微針(zhen)模塊測(ce)試(shi)效率高,穩定性好。與同一產品測(ce)試(shi)前后相比,連接器基本上(shang)看不(bu)到刺痕,不(bu)會對產品造(zao)成任何損壞pogopin探針(zhen)電(dian)池測(ce)試(shi)模塊更值(zhi)得選(xuan)擇(ze)和信賴。

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