關于BTB/FPC母(mu)座(zuo)connector測試(shi)(shi)，目前大部份的企業、廠(chang)商(shang)采(cai)用輕觸(chu)計劃降臨時應(ying)對(dui)(dui)；運用pogo pin的廠(chang)商(shang)測試(shi)(shi)母(mu)座(zuo)時，只能接觸(chu)連接器端(duan)子頂點位置，接觸(chu)區(qu)域面積小(xiao)，接觸(chu)方式(shi)為(wei)點對(dui)(dui)點，相對(dui)(dui)彈片接觸(chu)面小(xiao)，易(yi)磨(mo)損(sun)及運用次數到一定的壽命后易(yi)接觸(chu)不良，招致誤測等(deng)現象。

　　pogopin是由彈簧、針(zhen)(zhen)(zhen)管、針(zhen)(zhen)(zhen)軸(zhou)三(san)個根本部件(jian)預壓之后(hou)構(gou)成的彈簧式探針(zhen)(zhen)(zhen)；它自(zi)身(shen)由幾個部件(jian)制造、裝(zhuang)配、涂裝(zhuang)而成，工(gong)藝程序復雜，但運(yun)用壽(shou)命(ming)仍然不高；由于(yu)pogopin自(zi)身(shen)存(cun)在(zai)的一些問題，在(zai)實踐(jian)操作針(zhen)(zhen)(zhen)對BTB母座connector測試(shi)時，我們理解(jie)到一些廠商的實踐(jian)狀況(kuang)：

　　1.測(ce)試不穩定，pogopin自(zi)身(shen)是(shi)多(duo)配件構(gou)造，接(jie)觸(chu)點多(duo)，易(yi)產生接(jie)觸(chu)不穩定、阻抗分歧性低等問題；

　　2.測試時(shi)探針(zhen)經常性扎歪，然后需求人員重新(xin)進行探針(zhen)調整，糜(mi)費了大量的時(shi)間和人工本錢；

　　3.卡(ka)PIN：同樣由于由多構造組合(he)而成，這個在pogopin身上(shang)是防(fang)止不了的問(wen)題；

　　4.極易斷針(zhen)：隨著(zhu)pitch的(de)減少，pogo的(de)針(zhen)徑也(ye)越(yue)(yue)來越(yue)(yue)小(xiao)，使(shi)得探(tan)針(zhen)的(de)斷針(zhen)風險逐步(bu)增(zeng)加；

　　5.運(yun)用(yong)(yong)壽(shou)命很短：探針(zhen)的運(yun)用(yong)(yong)壽(shou)命均在30000次以下，并容(rong)易磨損(sun)，運(yun)用(yong)(yong)次數(shu)到一定的壽(shou)命后易招(zhao)致接觸不良、誤(wu)測等現(xian)象；

　　以(yi)(yi)上(shang)狀況(kuang)相對呈現率較高，針對以(yi)(yi)上(shang)的狀況(kuang)，自然導致企業本錢的增(zeng)加，測試(shi)穩定性差，良(liang)品(pin)率低等問題。

　　針對以(yi)上(shang)運用pogo測(ce)試BTB母座connector，下面簡單引見幾個方面：

　　1.彈(dan)片(pian)微針模組有一體成型(xing)，后期加硬鍍(du)金(jin)處(chu)置，接(jie)觸(chu)(chu)外形(xing)（可定制化）很容易依照(zhao)客戶請求制造；彈(dan)片(pian)為一體化構造，減少了接(jie)觸(chu)(chu)點，防止(zhi)產生接(jie)觸(chu)(chu)不穩定、阻抗分歧性低等問題；

　　2.在測試(shi)母座時，彈片頭部插入(ru)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)內(nei)端子，使(shi)其(qi)產生一定的張開量(liang)，這(zhe)樣能夠(gou)保障彈片接(jie)(jie)(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)端子兩面不斷堅持接(jie)(jie)(jie)觸(chu)狀態；測試(shi)公座時，鋸齒型彈片大面積充沛和(he)連(lian)接(jie)(jie)(jie)器(qi)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)點(dian)接(jie)(jie)(jie)觸(chu)，保障測試(shi)穩定；

　　3.電傳播(bo)導(dao)于同一資(zi)料體(ti)內，電阻(zu)恒定，簡直(zhi)沒有(you)電流衰(shuai)減，具(ju)有(you)更好的銜接功(gong)用，額定電流為3A；

　　4.由于一體(ti)成型(xing)，完(wan)整不會(hui)呈現卡pin現象，并(bing)且(qie)運用(yong)壽命(ming)能到達30萬次以上；

　　5.測試母座時，定制的斜口(kou)性彈(dan)片(pian)(pian)的頭部插入(ru)BTB連(lian)接(jie)器(qi)內彈(dan)片(pian)(pian)啟齒(chi)之間，對(dui)BTB連(lian)接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)產生一(yi)定的張開量，微針模(mo)組(zu)彈(dan)片(pian)(pian)接(jie)觸面與BTB連(lian)接(jie)器(qi)彈(dan)片(pian)(pian)兩面不(bu)斷堅持接(jie)觸狀態，微針模(mo)組(zu)彈(dan)片(pian)(pian)頭型自清潔設計免維護保障長期穩定性；

　　6.一體(ti)式設計，準確度高(gao)，完整不(bu)會呈現扎(zha)歪的(de)問題(ti)；

　　7.大電流BTB彈(dan)片(pian)微針模組的測試良率能到達(da)99.5%；

　　8.能更(geng)好的應對pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微針模組（blade block）在同一模組，測(ce)試前和測(ce)試20次后，連接(jie)器上根本看不到任何扎痕；

　　針對市(shi)場上，企業(ye)運用(yong)pogopin一系列的問(wen)題，我們自(zi)主(zhu)創新(xin)的大電(dian)流BTB彈片微針模(mo)組（blade block）的處理計劃(hua)能更好的應對，協助企業(ye)儉省本錢。

　　相較于目前市場上(shang)的痛點，大(da)(da)電(dian)流(liu)彈片(pian)(pian)微針(zhen)模組（blade block），一體成型的彈片(pian)(pian)根卡pin、銜接(jie)(jie)穩(wen)定性差、斷針(zhen)，接(jie)(jie)觸外形(xing)可定制化防止了產生接(jie)(jie)觸不穩(wen)定、阻抗分歧(qi)性低，能應對pitch≤0.2mm、測試效率(lv)高(gao)、穩(wen)定性高(gao)、能兼容(rong)小pitch BTB公母座(zuo)穩(wen)定且牢(lao)靠(kao)、能接(jie)(jie)受的頂(ding)點為50A大(da)(da)電(dian)流(liu)、運用(yong)壽命更長(chang)、快速出樣(yang)、訂貨周期(qi)短等優點。