關(guan)于BTB/FPC母座(zuo)(zuo)connector測試，目前大部份(fen)的企業、廠(chang)商(shang)采用(yong)輕觸(chu)(chu)(chu)計劃降臨時(shi)應對；運(yun)(yun)用(yong)pogo pin的廠(chang)商(shang)測試母座(zuo)(zuo)時(shi)，只能接(jie)觸(chu)(chu)(chu)連接(jie)器端子頂點位(wei)置(zhi)，接(jie)觸(chu)(chu)(chu)區域(yu)面積小(xiao)，接(jie)觸(chu)(chu)(chu)方式為點對點，相(xiang)對彈片(pian)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)面小(xiao)，易磨損(sun)及運(yun)(yun)用(yong)次數(shu)到一(yi)定(ding)的壽命(ming)后易接(jie)觸(chu)(chu)(chu)不良，招(zhao)致誤測等現象。

　　pogopin是由(you)彈簧(huang)、針(zhen)管(guan)、針(zhen)軸三(san)個根本部(bu)件(jian)(jian)預壓之后構(gou)成(cheng)的彈簧(huang)式探針(zhen)；它自身(shen)(shen)由(you)幾個部(bu)件(jian)(jian)制造、裝配、涂裝而成(cheng)，工藝程序(xu)復雜，但(dan)運用(yong)壽(shou)命仍然不高(gao)；由(you)于pogopin自身(shen)(shen)存在的一些問題，在實(shi)踐操作針(zhen)對BTB母座(zuo)connector測試時，我們理解到一些廠(chang)商的實(shi)踐狀況：

　　1.測(ce)試不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)，pogopin自(zi)身(shen)是(shi)多配件構造，接觸點多，易產生接觸不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)、阻抗(kang)分歧性低等問題；

　　2.測試時探針經常性扎歪(wai)，然后需求人員重新進行探針調整(zheng)，糜費(fei)了大量的時間和(he)人工本錢；

　　3.卡PIN：同樣由(you)于(yu)由(you)多(duo)構造組(zu)合而(er)成，這個在pogopin身上是(shi)防止不了的問題；

　　4.極易斷(duan)針：隨著(zhu)pitch的減少，pogo的針徑也越來(lai)越小，使得探(tan)針的斷(duan)針風險逐步增(zeng)加；

　　5.運(yun)用壽命很短：探(tan)針的運(yun)用壽命均在30000次以下，并容易磨損，運(yun)用次數到一定的壽命后易招(zhao)致接觸不良、誤(wu)測等現象；

　　以上狀(zhuang)況相對呈(cheng)現率較高，針對以上的(de)狀(zhuang)況，自然導致企業(ye)本錢的(de)增加(jia)，測試穩(wen)定性差(cha)，良(liang)品率低等問題(ti)。

　　針對(dui)以上運用pogo測試(shi)BTB母座(zuo)connector，下面簡單引見幾個方(fang)面：

　　1.彈(dan)片(pian)微針(zhen)模(mo)組有一體成型，后(hou)期加硬鍍金(jin)處(chu)置(zhi)，接觸(chu)(chu)外(wai)形（可定制化）很容易(yi)依(yi)照客戶請求制造；彈(dan)片(pian)為一體化構造，減少(shao)了接觸(chu)(chu)點，防止產生(sheng)接觸(chu)(chu)不穩定、阻抗分歧性低等問題；

　　2.在測(ce)試母座時(shi)，彈(dan)片頭部插入連接器(qi)內端子(zi)，使其產生一定的張開量，這樣能(neng)夠保(bao)(bao)障彈(dan)片接觸(chu)(chu)面(mian)與(yu)BTB連接器(qi)端子(zi)兩(liang)面(mian)不斷堅持接觸(chu)(chu)狀態；測(ce)試公座時(shi)，鋸齒型彈(dan)片大(da)面(mian)積充沛和連接器(qi)接觸(chu)(chu)點接觸(chu)(chu)，保(bao)(bao)障測(ce)試穩定；

　　3.電(dian)傳播導(dao)于同(tong)一資料體內，電(dian)阻恒定，簡直沒(mei)有(you)電(dian)流(liu)衰減，具有(you)更好的(de)銜接(jie)功用，額定電(dian)流(liu)為3A；

　　4.由于一體成型，完(wan)整不會(hui)呈(cheng)現卡pin現象(xiang)，并且運用壽命(ming)能(neng)到達30萬次以上；

　　5.測(ce)試母(mu)座時(shi)，定制的斜口性彈片(pian)(pian)的頭(tou)部插(cha)入BTB連(lian)接(jie)器內彈片(pian)(pian)啟齒(chi)之間，對BTB連(lian)接(jie)器彈片(pian)(pian)產(chan)生(sheng)一定的張開量，微(wei)針模(mo)組彈片(pian)(pian)接(jie)觸面(mian)與BTB連(lian)接(jie)器彈片(pian)(pian)兩(liang)面(mian)不(bu)斷堅持(chi)接(jie)觸狀(zhuang)態，微(wei)針模(mo)組彈片(pian)(pian)頭(tou)型自清潔(jie)設計免維(wei)護保障長期(qi)穩(wen)定性；

　　6.一(yi)體式設計，準確度高，完整不會呈現(xian)扎(zha)歪的(de)問題；

　　7.大(da)電(dian)流BTB彈片微針模組的(de)測試良率能(neng)到達99.5%；

　　8.能更好的(de)(de)應對(dui)pitch≤0.2mm的(de)(de)范疇；

　　9.運用(yong)彈片(pian)微針(zhen)模組（blade block）在同(tong)一模組，測試(shi)前(qian)和(he)測試(shi)20次后(hou)，連接器上根(gen)本看不到任何扎痕(hen)；

　　針(zhen)對市場上，企業(ye)運用(yong)pogopin一(yi)系列的問題，我們自(zi)主創新的大電流BTB彈片微針(zhen)模(mo)組(zu)（blade block）的處(chu)理計劃能(neng)更好的應對，協助企業(ye)儉(jian)省(sheng)本錢。

　　相較于目前市場上(shang)的(de)痛點(dian)，大電流(liu)彈片微針(zhen)模(mo)組（blade block），一體成型的(de)彈片根卡pin、銜接(jie)穩定性(xing)差、斷針(zhen)，接(jie)觸外形可(ke)定制化防(fang)止了產生接(jie)觸不(bu)穩定、阻抗分(fen)歧(qi)性(xing)低，能(neng)應對pitch≤0.2mm、測試效率(lv)高、穩定性(xing)高、能(neng)兼(jian)容小(xiao)pitch BTB公(gong)母(mu)座(zuo)穩定且(qie)牢靠、能(neng)接(jie)受的(de)頂點(dian)為50A大電流(liu)、運用壽命更(geng)長、快速出(chu)樣、訂貨(huo)周期(qi)短等優點(dian)。