21世紀(ji)發展的理想電(dian)源(yuan)。鋰電(dian)池(chi)可廣泛應用于 3C 也被(bei)稱為(wei)手機、平(ping)板電(dian)腦、筆記本電(dian)腦、可穿戴設備等(deng)領域，鋰電(dian)池(chi)具(ju)有(you)能(neng)量密(mi)度高、電(dian)壓高、壽命長、無記憶效應等(deng)優點，3C鋰電(dian)池(chi)是容易因短路(lu)、過充等(deng)原因燒毀或爆炸，所以(yi)很(hen)危險(xian)3C鋰電(dian)池(chi)測試是鋰電(dian)池(chi)制造和組裝(zhuang)的重要環節，是實(shi)現(xian)鋰電(dian)池(chi)性(xing)能(neng)和安(an)(an)全(quan)靠譜使用的有(you)力保障。3C鋰電(dian)池(chi)測試項目(mu)主要包(bao)括(kuo)一(yi)致(zhi)性(xing)、功能(neng)性(xing)、安(an)(an)全(quan)性(xing)、可靠性(xing)和工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊。通過比(bi)較兩者的優(you)缺點，我們可以更直觀(guan)地(di)區分哪一個更符(fu)合要(yao)求(qiu)3C鋰電池測試要(yao)求(qiu)。

　　從目前的市場趨勢來看(kan)，3C電(dian)子產品內部空間集成(cheng)度高，pitch不斷縮小，pogopin探針(zhen)模(mo)組在(zai)(zai)小pitch該(gai)領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和(he)穩(wen)定性差。3C鋰電(dian)池測試對(dui)電(dian)流(liu)(liu)的需求(qiu)很大，pogopin探針(zhen)模(mo)塊(kuai)能承(cheng)載的額定電(dian)流(liu)(liu)僅(jin)為1A，在(zai)(zai)傳(chuan)輸過(guo)程中，電(dian)流(liu)(liu)會在(zai)(zai)不同位衰(shuai)減，導致連接不穩(wen)定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模組無論是面(mian)對(dui)小間距還是大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)，都有(you)很(hen)好(hao)的(de)應對(dui)方法。在小pitch在該領域，大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模塊(kuai)是可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)可(ke)靠。面(mian)對(dui)大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)測試(shi)(shi)要求，大(da)(da)(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模塊(kuai)可(ke)通過的(de)額定(ding)電(dian)流(liu)大(da)(da)(da)到(dao)50A，在1-50A電(dian)阻(zu)恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)流(liu)衰(shuai)減，具有(you)良好(hao)的(de)連(lian)接(jie)功(gong)能，可(ke)以很(hen)大(da)(da)(da)限度地保障3C鋰電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)的(de)穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽命而言，pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽命在于5w大電流(liu)彈(dan)(dan)(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組的試(shi)驗壽命約為20w以上(shang)，比(bi)(bi)較pogopin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四倍!況且pogo pin探針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)為多組件結構(gou)，生(sheng)產(chan)(chan)工(gong)藝復雜，生(sheng)產(chan)(chan)難度高，交貨期長;大電流(liu)彈(dan)(dan)(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組是一種集成(cheng)(cheng)彈(dan)(dan)(dan)片結構(gou)，輕、扁平，可(ke)根(gen)據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)(chan)難度低，交貨期短。相比(bi)(bi)之下，通(tong)大電流(liu)彈(dan)(dan)(dan)片微針(zhen)(zhen)(zhen)模(mo)(mo)組的成(cheng)(cheng)本性(xing)能并不(bu)太高!

　　對(dui)比(bi)母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率，pogopin針(zhen)對(dui)探針(zhen)模塊BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)母(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無法實現，穩定(ding)性極(ji)差。大(da)(da)部分采用觸摸方案對(dui)應(ying)，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率不到80%;母(mu)座(zuo)(zuo)上有一種特(te)別的(de)通大(da)(da)電流彈(dan)片微針(zhen)模組對(dui)應(ying)方法。將斜(xie)口型(也稱(cheng)尖頭型)彈(dan)片頭插(cha)入連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)內端子，以保(bao)持(chi)一定(ding)的(de)開度，從而(er)保(bao)障彈(dan)片的(de)接(jie)(jie)(jie)觸面和接(jie)(jie)(jie)觸面BTB連接(jie)(jie)(jie)器(qi)(qi)端子兩側(ce)保(bao)持(chi)接(jie)(jie)(jie)觸狀態，使測(ce)試(shi)穩定(ding)，母(mu)座(zuo)(zuo)測(ce)試(shi)良(liang)率達到99.8%。

　　大(da)電流彈片(pian)微針模(mo)組測試效率高，穩定性好。與(yu)同一產(chan)品測試前后相比，連接器基本(ben)上看不到刺(ci)痕(hen)，不會對(dui)產(chan)品造成(cheng)任何損壞pogo pin電池測試模(mo)塊(kuai)更值得選(xuan)擇和信賴(lai)。