21世紀發展的(de)理想電(dian)(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用(yong)于(yu) 3C 也(ye)被稱為手機、平(ping)板電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)(dian)(dian)腦、可(ke)穿戴設備等領域，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)具有(you)能(neng)量(liang)密度高、電(dian)(dian)(dian)(dian)壓高、壽命(ming)長、無記憶效應(ying)等優點，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)是容易因短路、過(guo)充等原因燒(shao)毀或爆炸，所以很(hen)危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)制造和組裝的(de)重要(yao)環節(jie)，是實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)性(xing)能(neng)和安全靠譜(pu)使用(yong)的(de)有(you)力保障。3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)(chi)測試項目主(zhu)要(yao)包括一致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全性(xing)、可(ke)靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探(tan)針模塊。通過比較兩者的優缺點，我(wo)們可以更(geng)直觀地區(qu)分哪一個(ge)更(geng)符合(he)要求(qiu)3C鋰電池測試(shi)要求(qiu)。

　　從(cong)目前的(de)市(shi)場趨勢(shi)來看，3C電(dian)子(zi)產品內部空間(jian)集成度高，pitch不(bu)斷縮小，pogopin探針(zhen)(zhen)模組在(zai)小pitch該(gai)領域(yu)適應(ying)性差(cha)，只能處理(li)0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽命(ming)和穩定(ding)性差(cha)。3C鋰電(dian)池測試對電(dian)流(liu)的(de)需求(qiu)很大，pogopin探針(zhen)(zhen)模塊能承載的(de)額定(ding)電(dian)流(liu)僅為1A，在(zai)傳輸過程中，電(dian)流(liu)會在(zai)不(bu)同位衰減，導致連接不(bu)穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微針(zhen)模組無(wu)論是面(mian)對(dui)小間距還是大(da)電(dian)(dian)流(liu)，都(dou)有(you)(you)很好的(de)(de)(de)應對(dui)方法(fa)。在(zai)小pitch在(zai)該領域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微針(zhen)模塊是可取的(de)(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能(neng)穩定可靠。面(mian)對(dui)大(da)電(dian)(dian)流(liu)測(ce)試(shi)要求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)彈片微針(zhen)模塊可通過的(de)(de)(de)額定電(dian)(dian)流(liu)大(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定，幾乎沒有(you)(you)電(dian)(dian)流(liu)衰減，具有(you)(you)良好的(de)(de)(de)連接功(gong)能(neng)，可以(yi)很大(da)限(xian)度地保(bao)障3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試(shi)的(de)(de)(de)穩定性。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽命而言(yan)，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗(yan)壽命在于5w大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的試(shi)驗(yan)壽命約為(wei)(wei)20w以上(shang)，比(bi)(bi)較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)(duo)了四(si)倍!況且pogo pin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)(wei)多(duo)(duo)組(zu)(zu)件(jian)結(jie)構，生(sheng)產(chan)(chan)工(gong)藝復雜，生(sheng)產(chan)(chan)難度高，交貨期長(chang);大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)(zu)是一種集成(cheng)彈(dan)片結(jie)構，輕、扁平，可根據客戶要(yao)求定(ding)制(zhi)，生(sheng)產(chan)(chan)難度低，交貨期短。相比(bi)(bi)之下(xia)，通大電流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)(zu)的成(cheng)本性(xing)能并不太高!

　　對(dui)比(bi)母(mu)座測(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)，pogopin針(zhen)對(dui)探針(zhen)模塊BTB連接器(qi)母(mu)座幾(ji)乎無法實現，穩(wen)定性極差。大部分采(cai)用(yong)觸摸方案(an)對(dui)應，母(mu)座測(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)不(bu)到80%;母(mu)座上有一種特(te)別的通大電流彈(dan)片微(wei)針(zhen)模組對(dui)應方法。將斜口型(xing)(也稱(cheng)尖頭(tou)型(xing))彈(dan)片頭(tou)插入連接器(qi)內端子，以保持一定的開度，從而保障彈(dan)片的接觸面和接觸面BTB連接器(qi)端子兩側保持接觸狀態(tai)，使測(ce)試(shi)(shi)穩(wen)定，母(mu)座測(ce)試(shi)(shi)良率(lv)(lv)達到99.8%。

　　大電(dian)流彈片微針模(mo)組測試效率(lv)高，穩定性(xing)好。與同一產品測試前后相(xiang)比，連接器基本上看不(bu)到(dao)刺痕，不(bu)會對產品造成任何損壞pogo pin電(dian)池測試模(mo)塊更值得選擇(ze)和信賴(lai)。