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PogoPin彈簧針模組的測試方案

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-01-12

  關于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)(ce)試,目前大(da)部份的(de)企(qi)業、廠商采用輕觸(chu)(chu)(chu)計劃(hua)降臨時(shi)應對;運用pogo pin的(de)廠商測(ce)(ce)試母(mu)座時(shi),只能接(jie)觸(chu)(chu)(chu)連接(jie)器端子(zi)頂點位(wei)置,接(jie)觸(chu)(chu)(chu)區域面(mian)(mian)積小(xiao),接(jie)觸(chu)(chu)(chu)方式為點對點,相對彈(dan)片(pian)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)面(mian)(mian)小(xiao),易磨損(sun)及(ji)運用次數到一定(ding)的(de)壽命后易接(jie)觸(chu)(chu)(chu)不良,招(zhao)致誤測(ce)(ce)等現象。


  pogopin是由彈(dan)簧(huang)、針(zhen)(zhen)管、針(zhen)(zhen)軸三(san)個根本部(bu)件預壓(ya)之后構成的彈(dan)簧(huang)式探針(zhen)(zhen);它自(zi)身由幾(ji)個部(bu)件制(zhi)造、裝配、涂裝而成,工藝程序復雜,但運用壽命(ming)仍然不高;由于pogopin自(zi)身存(cun)在的一些(xie)問題,在實踐(jian)操作(zuo)針(zhen)(zhen)對BTB母座connector測試時,我(wo)們(men)理解到(dao)一些(xie)廠商的實踐(jian)狀況:


  1.測試不(bu)穩定,pogopin自身(shen)是多配件(jian)構(gou)造,接(jie)觸(chu)(chu)點多,易產生接(jie)觸(chu)(chu)不(bu)穩定、阻(zu)抗分歧性低等(deng)問題;


  2.測試(shi)時探針(zhen)經常性(xing)扎歪(wai),然后(hou)需求人(ren)員(yuan)重新進行(xing)探針(zhen)調整(zheng),糜費了大量的(de)時間和人(ren)工本(ben)錢;


  3.卡PIN:同樣(yang)由于由多構造組合而成,這個在pogopin身上(shang)是防止不了的問題;


  4.極(ji)易斷針(zhen)(zhen):隨(sui)著pitch的(de)減少(shao),pogo的(de)針(zhen)(zhen)徑也越來越小,使(shi)得探針(zhen)(zhen)的(de)斷針(zhen)(zhen)風險(xian)逐步增加;


  5.運用(yong)壽(shou)命(ming)很短(duan):探(tan)針的運用(yong)壽(shou)命(ming)均在30000次(ci)以下,并(bing)容易磨損,運用(yong)次(ci)數到一定(ding)的壽(shou)命(ming)后易招(zhao)致接(jie)觸不良、誤(wu)測等現象;


  以上狀況(kuang)相對呈(cheng)現率(lv)較高(gao),針對以上的狀況(kuang),自然(ran)導致企業本錢(qian)的增加,測(ce)試穩定性差,良品率(lv)低等問題。


  針對以(yi)上運用(yong)pogo測試BTB母(mu)座connector,下(xia)面簡單(dan)引(yin)見幾個方面:


  1.彈片(pian)微針模組有(you)一(yi)體成型,后期加硬(ying)鍍(du)金處置,接(jie)(jie)觸(chu)外(wai)形(可定制(zhi)(zhi)化)很容易依照客戶請求制(zhi)(zhi)造;彈片(pian)為(wei)一(yi)體化構造,減少了(le)接(jie)(jie)觸(chu)點,防止(zhi)產(chan)生(sheng)接(jie)(jie)觸(chu)不穩定、阻抗分歧(qi)性低等問題;


  2.在測試(shi)母座時,彈(dan)(dan)片(pian)頭部插入連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)內端子(zi),使其產生一定的張開量,這樣能夠保(bao)障彈(dan)(dan)片(pian)接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)與BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)端子(zi)兩面(mian)不(bu)斷堅持接(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai);測試(shi)公座時,鋸(ju)齒型彈(dan)(dan)片(pian)大(da)面(mian)積充沛和(he)連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)接(jie)(jie)觸(chu)點接(jie)(jie)觸(chu),保(bao)障測試(shi)穩定;


  3.電傳(chuan)播導于同(tong)一資料體(ti)內,電阻(zu)恒定(ding),簡直(zhi)沒有電流(liu)衰減,具(ju)有更(geng)好的(de)銜接(jie)功用,額定(ding)電流(liu)為3A;


  4.由(you)于一體成型,完整不會呈現卡pin現象,并且運用壽命(ming)能到達30萬次以上;


  5.測試母座時(shi),定(ding)制的(de)斜口(kou)性彈(dan)(dan)(dan)片(pian)的(de)頭部插入(ru)BTB連(lian)接器內(nei)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)啟齒之間,對(dui)BTB連(lian)接器彈(dan)(dan)(dan)片(pian)產生一定(ding)的(de)張(zhang)開量,微針(zhen)模組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)接觸面與(yu)BTB連(lian)接器彈(dan)(dan)(dan)片(pian)兩面不斷堅持(chi)接觸狀態,微針(zhen)模組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)頭型自(zi)清(qing)潔(jie)設計免維護(hu)保障長期穩定(ding)性;


  6.一體式設計,準(zhun)確度高,完整(zheng)不會呈現(xian)扎歪的問題;


  7.大(da)電流(liu)BTB彈片微針模組的測(ce)試良率能到達99.5%;


  8.能更好的應對pitch≤0.2mm的范疇;


  9.運用彈(dan)片微針模組(zu)(blade block)在(zai)同一模組(zu),測(ce)試前和測(ce)試20次(ci)后(hou),連接(jie)器上根本看(kan)不到任何扎痕;


  針對市場上,企(qi)業(ye)運用pogopin一系列的問題,我們自主創(chuang)新的大電流BTB彈(dan)片微針模組(blade block)的處理(li)計劃(hua)能更好的應對,協(xie)助企(qi)業(ye)儉省本錢。


  相較于目前市場(chang)上的(de)痛點,大(da)電流彈片微針模(mo)組(blade block),一體成型(xing)的(de)彈片根卡pin、銜(xian)接(jie)穩(wen)定性(xing)(xing)(xing)差(cha)、斷針,接(jie)觸外形可定制化防止了(le)產生接(jie)觸不(bu)穩(wen)定、阻(zu)抗分歧(qi)性(xing)(xing)(xing)低,能應(ying)對pitch≤0.2mm、測試效(xiao)率高、穩(wen)定性(xing)(xing)(xing)高、能兼容小pitch BTB公母座穩(wen)定且牢靠、能接(jie)受的(de)頂(ding)點為50A大(da)電流、運用壽命更長、快速出樣(yang)、訂貨周期短等優點。


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