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PogoPin彈簧針模組的測試方案

文章來源:勤誠科技 / 作者:勤誠科技 / 發表時間:2023-01-12

  關于BTB/FPC母(mu)座connector測(ce)試,目前(qian)大(da)部(bu)份的(de)企業、廠(chang)商(shang)采用(yong)輕觸計劃降臨時應(ying)對(dui);運(yun)用(yong)pogo pin的(de)廠(chang)商(shang)測(ce)試母(mu)座時,只能(neng)接(jie)觸連接(jie)器端子頂點(dian)(dian)位置,接(jie)觸區域面積小(xiao),接(jie)觸方(fang)式(shi)為點(dian)(dian)對(dui)點(dian)(dian),相對(dui)彈片接(jie)觸面小(xiao),易(yi)磨損及運(yun)用(yong)次數到一定的(de)壽命后易(yi)接(jie)觸不良,招(zhao)致誤測(ce)等現象。


  pogopin是由彈(dan)簧、針管、針軸三(san)個(ge)根本部件(jian)預壓之后(hou)構成的(de)彈(dan)簧式探針;它自(zi)(zi)身由幾個(ge)部件(jian)制造、裝(zhuang)配、涂(tu)裝(zhuang)而成,工藝程序(xu)復(fu)雜,但運用壽命仍然不高;由于pogopin自(zi)(zi)身存(cun)在的(de)一些問題,在實踐操作針對BTB母座connector測試時(shi),我們理解(jie)到(dao)一些廠商的(de)實踐狀況(kuang):


  1.測試不穩定,pogopin自身是多(duo)配件構造,接(jie)觸點多(duo),易產生接(jie)觸不穩定、阻(zu)抗分歧性低等問(wen)題;


  2.測試時探(tan)針經常性扎歪(wai),然后需求(qiu)人員重新進行(xing)探(tan)針調整(zheng),糜費了大量的時間和人工本(ben)錢;


  3.卡PIN:同樣(yang)由(you)于(yu)由(you)多構造(zao)組合而(er)成,這(zhe)個(ge)在pogopin身上是防止不(bu)了(le)的問題;


  4.極(ji)易斷(duan)針(zhen):隨著pitch的(de)減(jian)少,pogo的(de)針(zhen)徑(jing)也越(yue)來越(yue)小,使得(de)探針(zhen)的(de)斷(duan)針(zhen)風險逐步增(zeng)加;


  5.運用壽(shou)命(ming)很短(duan):探針的運用壽(shou)命(ming)均在(zai)30000次以(yi)下,并容(rong)易磨損,運用次數(shu)到一定的壽(shou)命(ming)后易招致接觸不良、誤測等現象(xiang);


  以(yi)上狀(zhuang)況(kuang)(kuang)相對呈現率(lv)較(jiao)高,針對以(yi)上的狀(zhuang)況(kuang)(kuang),自然(ran)導(dao)致企(qi)業本錢的增(zeng)加,測試穩定(ding)性(xing)差,良品率(lv)低等(deng)問題(ti)。


  針對以上運(yun)用pogo測試BTB母座connector,下(xia)面(mian)簡單引見幾個(ge)方面(mian):


  1.彈片微針模組(zu)有一(yi)體(ti)成(cheng)型,后(hou)期加(jia)硬鍍金處置,接觸(chu)(chu)外(wai)形(可定制(zhi)化)很(hen)容易依照客戶請求(qiu)制(zhi)造(zao);彈片為一(yi)體(ti)化構造(zao),減少了接觸(chu)(chu)點,防止產生(sheng)接觸(chu)(chu)不穩定、阻抗分歧(qi)性低等問題;


  2.在測(ce)試母座時(shi),彈片頭(tou)部(bu)插(cha)入連接(jie)器內端子,使其產生(sheng)一定的張開量,這樣能(neng)夠保障彈片接(jie)觸面(mian)與BTB連接(jie)器端子兩面(mian)不(bu)斷(duan)堅持接(jie)觸狀態;測(ce)試公座時(shi),鋸(ju)齒(chi)型彈片大面(mian)積充沛和連接(jie)器接(jie)觸點接(jie)觸,保障測(ce)試穩定;


  3.電(dian)傳播導于同一(yi)資料體內,電(dian)阻恒定(ding),簡直沒有電(dian)流衰(shuai)減(jian),具有更(geng)好的銜接功用,額定(ding)電(dian)流為(wei)3A;


  4.由于一體成型(xing),完整(zheng)不(bu)會呈現卡pin現象,并(bing)且運用壽命能(neng)到達30萬次以(yi)上;


  5.測試母座時,定(ding)(ding)制的斜口性(xing)彈(dan)(dan)(dan)(dan)片的頭(tou)部插入(ru)BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)內彈(dan)(dan)(dan)(dan)片啟(qi)齒(chi)之間(jian),對(dui)BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)彈(dan)(dan)(dan)(dan)片產生一定(ding)(ding)的張開量,微(wei)針(zhen)模(mo)組彈(dan)(dan)(dan)(dan)片接(jie)(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)(jie)器(qi)彈(dan)(dan)(dan)(dan)片兩面不(bu)斷堅(jian)持接(jie)(jie)觸(chu)狀態,微(wei)針(zhen)模(mo)組彈(dan)(dan)(dan)(dan)片頭(tou)型自清潔設計(ji)免維護保(bao)障長期穩(wen)定(ding)(ding)性(xing);


  6.一體式設計(ji),準確度高,完整不會呈現扎歪的(de)問題;


  7.大電流(liu)BTB彈片微針模組的(de)測試良(liang)率能(neng)到(dao)達99.5%;


  8.能更好的(de)應(ying)對pitch≤0.2mm的(de)范疇(chou);


  9.運(yun)用(yong)彈片微針模組(blade block)在同一模組,測(ce)試(shi)前和測(ce)試(shi)20次后,連接器上根(gen)本(ben)看不到任何(he)扎痕;


  針對(dui)市場(chang)上,企業(ye)(ye)運用pogopin一系列(lie)的問(wen)題,我們(men)自主創新的大電流BTB彈片微針模組(blade block)的處理計劃能更好的應對(dui),協助企業(ye)(ye)儉省本(ben)錢。


  相較于目前市場上的(de)痛點,大電流(liu)彈片(pian)微針(zhen)模組(blade block),一體(ti)成型的(de)彈片(pian)根卡pin、銜接(jie)穩(wen)(wen)定(ding)性(xing)差、斷針(zhen),接(jie)觸(chu)(chu)外形可定(ding)制(zhi)化防止了產(chan)生接(jie)觸(chu)(chu)不(bu)穩(wen)(wen)定(ding)、阻抗分歧(qi)性(xing)低,能應對pitch≤0.2mm、測試效率高(gao)、穩(wen)(wen)定(ding)性(xing)高(gao)、能兼容小pitch BTB公母座穩(wen)(wen)定(ding)且牢(lao)靠、能接(jie)受的(de)頂(ding)點為50A大電流(liu)、運用(yong)壽(shou)命更長、快速出樣、訂貨周期短等(deng)優(you)點。


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