21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)(ke)廣(guang)泛應用(yong)于 3C 也被稱為手機、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆(bi)記本(ben)電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可(ke)(ke)穿戴設備等領域(yu)，鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)能量(liang)密度高、電(dian)(dian)(dian)壓高、壽命長、無記憶(yi)效(xiao)應等優點(dian)，3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)是(shi)容易因短路、過(guo)充等原因燒(shao)毀(hui)或爆炸，所以很危(wei)險3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)是(shi)鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造(zao)和組裝的重(zhong)要(yao)環節，是(shi)實現鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能和安全靠譜使用(yong)的有(you)力保障。3C鋰(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試(shi)項目主要(yao)包(bao)括(kuo)一致性(xing)、功能性(xing)、安全性(xing)、可(ke)(ke)靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊。通(tong)過(guo)比較兩者的優缺點，我們可以(yi)更直觀(guan)地(di)區分哪一(yi)個更符(fu)合要求3C鋰電池測試要求。

　　從目前(qian)的市場趨勢(shi)來看，3C電子(zi)產品內(nei)部(bu)空間(jian)集成度(du)高，pitch不(bu)斷(duan)縮小(xiao)，pogopin探(tan)針模(mo)組在(zai)小(xiao)pitch該領域適應(ying)性差，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的pitch壽命和穩定(ding)(ding)性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探(tan)針模(mo)塊能(neng)承載的額定(ding)(ding)電流僅為(wei)1A，在(zai)傳輸過程中，電流會(hui)在(zai)不(bu)同(tong)位衰減(jian)，導致連接不(bu)穩定(ding)(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模組無(wu)論是面(mian)對(dui)小間距還是大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，都有(you)很(hen)(hen)好(hao)的(de)(de)應對(dui)方法(fa)。在小pitch在該領域，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模塊(kuai)是可取的(de)(de)pitch值在0.15mm-0.4mm性能穩定可靠。面(mian)對(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)測試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈片(pian)(pian)微(wei)(wei)針(zhen)模塊(kuai)可通過的(de)(de)額定電(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)阻恒(heng)定，幾(ji)乎沒有(you)電(dian)(dian)流(liu)(liu)衰(shuai)減，具有(you)良(liang)好(hao)的(de)(de)連接功能，可以很(hen)(hen)大(da)(da)限度(du)地(di)保障3C鋰電(dian)(dian)池(chi)測試的(de)(de)穩定性。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用(yong)壽命而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的(de)(de)試(shi)驗(yan)壽命在于5w大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)試(shi)驗(yan)壽命約為20w以上(shang)，比較pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四倍!況且pogo pin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為多組(zu)件結構(gou)，生產工藝(yi)復雜(za)，生產難度高，交貨(huo)期長;大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)是一種集成彈(dan)片結構(gou)，輕、扁平，可根據客戶(hu)要(yao)求定制，生產難度低，交貨(huo)期短。相比之下，通大(da)電流(liu)彈(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的(de)(de)成本性能并(bing)不太(tai)高!

　　對比母座(zuo)測試(shi)(shi)良率(lv)，pogopin針(zhen)對探針(zhen)模塊BTB連(lian)接(jie)器(qi)母座(zuo)幾(ji)乎(hu)無(wu)法實(shi)現，穩(wen)定性極差。大部分采用觸(chu)(chu)(chu)摸方(fang)案對應，母座(zuo)測試(shi)(shi)良率(lv)不(bu)到80%;母座(zuo)上有一(yi)(yi)種(zhong)特別的(de)通大電流彈片微針(zhen)模組(zu)對應方(fang)法。將(jiang)斜口型(xing)(也稱尖頭型(xing))彈片頭插(cha)入連(lian)接(jie)器(qi)內(nei)端子(zi)，以保持一(yi)(yi)定的(de)開度，從而保障彈片的(de)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)面和(he)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)面BTB連(lian)接(jie)器(qi)端子(zi)兩側保持接(jie)觸(chu)(chu)(chu)狀態，使(shi)測試(shi)(shi)穩(wen)定，母座(zuo)測試(shi)(shi)良率(lv)達(da)到99.8%。

　　大(da)電(dian)(dian)流彈片(pian)微針模組測試效率高，穩定性好。與同一產品(pin)測試前后相比，連(lian)接器基本上看不到刺痕，不會對產品(pin)造(zao)成任(ren)何(he)損壞(huai)pogo pin電(dian)(dian)池測試模塊更值得選擇(ze)和信賴。