21世紀發(fa)展的(de)理想(xiang)電(dian)(dian)源。鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)可(ke)(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也被(bei)稱為(wei)手機(ji)、平板電(dian)(dian)腦、筆記本電(dian)(dian)腦、可(ke)(ke)穿(chuan)戴設備等(deng)領域，鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)具有(you)能(neng)量密度高、電(dian)(dian)壓高、壽(shou)命長、無記憶效應(ying)等(deng)優點，3C鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)是容(rong)易因短(duan)路、過充等(deng)原因燒毀或(huo)爆炸，所以很危險3C鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)制(zhi)造和(he)組裝的(de)重(zhong)要環節，是實現鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能(neng)和(he)安全(quan)靠譜使用的(de)有(you)力保障。3C鋰電(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項目(mu)主要包括(kuo)一致(zhi)性(xing)、功能(neng)性(xing)、安全(quan)性(xing)、可(ke)(ke)靠性(xing)和(he)工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是亞洲 歐洲 日韓 綜合 第一頁:pogopin探針模塊。通過比較兩者(zhe)的優缺點，我們可以更(geng)直觀(guan)地(di)區分哪一(yi)個更(geng)符(fu)合要求3C鋰電池測試要求。

　　從目前(qian)的市場趨勢來看，3C電(dian)(dian)子(zi)產品內部空間(jian)集成度高，pitch不斷縮(suo)小，pogopin探針(zhen)模組在(zai)小pitch該領域適應性(xing)差，只能處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的pitch壽命和穩定性(xing)差。3C鋰(li)電(dian)(dian)池測試對電(dian)(dian)流(liu)(liu)的需求很大，pogopin探針(zhen)模塊能承(cheng)載的額定電(dian)(dian)流(liu)(liu)僅為1A，在(zai)傳輸(shu)過程中(zhong)，電(dian)(dian)流(liu)(liu)會在(zai)不同(tong)位衰減，導(dao)致(zhi)連接不穩定。

　　通大電流彈片微針模組

　　通(tong)大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模組無論是面對小間距還(huan)是大(da)電流(liu)，都有很好的(de)應(ying)對方法。在(zai)小pitch在(zai)該領域，大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)是可(ke)取(qu)的(de)pitch值(zhi)在(zai)0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)可(ke)靠。面對大(da)電流(liu)測(ce)試要求，大(da)電流(liu)彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊(kuai)可(ke)通(tong)過的(de)額定(ding)電流(liu)大(da)到50A，在(zai)1-50A電阻(zu)恒定(ding)，幾乎(hu)沒(mei)有電流(liu)衰減，具有良好的(de)連接功(gong)能，可(ke)以(yi)很大(da)限度地保障3C鋰電池測(ce)試的(de)穩定(ding)性(xing)。

　　pogopin探針模組

　　就使(shi)用壽(shou)命而言，pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗(yan)壽(shou)命在于(yu)5w大(da)(da)電流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的試(shi)驗(yan)壽(shou)命約為20w以上，比較(jiao)pogopin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多(duo)了四倍!況(kuang)且pogo pin探針(zhen)(zhen)模(mo)塊(kuai)為多(duo)組(zu)件結(jie)構(gou)，生產(chan)(chan)工藝復雜，生產(chan)(chan)難度高(gao)，交貨(huo)期長;大(da)(da)電流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)是一種集成彈片結(jie)構(gou)，輕、扁平，可根(gen)據客戶要求(qiu)定制，生產(chan)(chan)難度低，交貨(huo)期短(duan)。相比之下，通大(da)(da)電流彈片微針(zhen)(zhen)模(mo)組(zu)的成本性能并(bing)不(bu)太高(gao)!

　　對比母(mu)(mu)座測試良率(lv)，pogopin針(zhen)對探針(zhen)模(mo)塊BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)母(mu)(mu)座幾乎無(wu)法實現，穩定性(xing)極差。大(da)部(bu)分采用(yong)觸(chu)摸方(fang)案對應，母(mu)(mu)座測試良率(lv)不到(dao)80%;母(mu)(mu)座上有一(yi)種特別(bie)的(de)通大(da)電(dian)流彈片微針(zhen)模(mo)組對應方(fang)法。將(jiang)斜(xie)口型(xing)(xing)(也稱尖頭型(xing)(xing))彈片頭插入連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)內端子，以保(bao)(bao)持一(yi)定的(de)開(kai)度，從而保(bao)(bao)障彈片的(de)接(jie)(jie)觸(chu)面和接(jie)(jie)觸(chu)面BTB連(lian)(lian)接(jie)(jie)器(qi)端子兩側保(bao)(bao)持接(jie)(jie)觸(chu)狀態，使(shi)測試穩定，母(mu)(mu)座測試良率(lv)達到(dao)99.8%。

　　大(da)電流彈片微針模組測試(shi)效率高，穩定性好。與同一(yi)產品測試(shi)前后相比，連接器基本上(shang)看不到刺痕，不會對(dui)產品造成任何損壞pogo pin電池測試(shi)模塊更值得選擇和信(xin)賴。